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Ansprechzeit: 500ms approx
Leerlaufspannung: 3.0VDC typisch
Überlastschutz: 500VDC oder AC eff
Diodentest
Teststrom: 1mA (approx.)
Testspannung: 3.0VDC typisch
Genauigkeit: ±(1.5%vMW +1Dgt)
Anzeige, 2V Bereich: Spannungsabfall über
Diodendurchgang
Überlastschutz: 500VDC oder AC eff
Logiktest (23/25/27XT)
Logik: TTL, CMOS
Schwellen, Logik 1 (HI):
TTL: 2.8V±0.8V / CMOS: 4.0V±1.0V
Schwellen, Logik 0 (LO):
TTL: 0.8V±0.5V / CMOS: 2.0V±0.5V
Testspannung, TTL: 5VDC; CMOS: >5VDC
und <10VDC
Frequenzgang: 20MHz
Impulsbreite: 25ns min.
Taktverhältnis: >20% und <80%
Anstiegszeit/Wiederholrate: 10µsec/1Mpps
Anzeige: 40ms Ton bei Logik O (LO)
Überlastschutz: 500VDC oder AC eff
Transistor Beta (23/25XT)
Transistor Typen: NPN, PNP
hFE Bereich: 0-1000
hFE Basisstrom: 10µAdc approx.
hFE Spannung C-E = 3.0VDC approx.
Temperatur (23XT)
Bereiche : 200, 750°C; 200, 1400°F
Genauigkeit:
-20 bis 200°C: ±(1.0%vMW +2°C)
200°C bis 750°C: ±(3.0%vMW +2°C)
-4°F bis 200°F: ±(1.0%vMW +4°F)
200°F bis 1400°F: ±(3.0%vMW +4°F)
Temperatur (28XT)
Bereiche : 200, 1300°C; 200, 2000°F
Genauigkeit:
-30 bis 1300°C: ±(1.0%vMW +1°C)
-22°F bis 2000°F: ±(1.0%vMW +2°F)
Frequenz (25/27/28XT)
Bereiche
25XT, Bereichsautomatik: 2kHz, 40kHz,
27XT, Bereichsautomatik: 2kHz, 20MHz
28XT, Manuell: 200Hz, 20kHz
Genauigkeit (>10Hz) ±(0.5% +3Dgt)
Empfindlichkeit, 25/28XT: 2V eff
27XT:
Low, 10Hz bis 1MHz: 250mV RMS;
Low 1MHz bis 20MHz: 2V RMS
High: 10 bis 100kHz: 2V RMS
Min Impulsbreite, 25/28XT: >150µs;
27XT: ≥25ns
Taktverhältnis: >30% und <70%
Überlastschutz: 500VDC oder AC eff
Kapazität (25/27/28XT)
Bereiche:
25XT: 200pF, 2, 20, 200nF, 2, 20, 200,
2000µF, 20mF
27XT: 2, 20nF, 2, 20, 2000µF
28XT: 2, 20, 200nF, 2, 20, 200µF, 2, 20mF
Genauigkeit*, 25XT:
200pF Bereich: ±(2.0% vMW +0.5pF)
2nF bis 2000µF Ber.: ±(2.0% vMW +4Dgt)
20mF Bereich: ±(3.0% vMW +4Dgt)
Genauigkeit*, 27XT:
alle Bereiche: ±(5.0% vMW +10Dgt)
Genauigkeit*, 28XT:
2nF bis 2mF Ber: ±(2.0% vMW +4Dgt)
20mF Bereich: ±(3.0% vMW +4Dgt)
Anmerkung: in niedrigen Bereichen residuelle
(Offset) Ablesung vom Resultat abziehen
Testfrequenz, Ansprechzeit, 25XT:
200pF-2µF Bereiche: 1000Hz/1.5 Sek
20µF Bereich: 100Hz/1.5 Sek
200-2000µF Bereiche: 10Hz/5 Sek
20mF Bereich: 10Hz/10 Sek
Testfrequenz, Ansprechzeit, 27XT:
2nF-20µF Bereiche: 200Hz/8 Sek
2000µF Bereich: 2Hz/20 Sek
Testfrequenz, Ansprechzeit, 28XT:
2nF-2µF Bereiche: 1000Hz/1.5 Sek
200µF, 2mF Bereiche: 10Hz/5 Sek
20mF Bereich: 10Hz/10 Sek
Überlastschutz, flinke Sicherung
27XT: 0.5A/250V
25/28XT: 0.1A/250V
Induktivität (27XT)
Bereiche: 2, 20, 200mH, 2, 20H
Auflösung, 2mH Bereich: 1µH
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