ホーム画面で右にスワイプした時、メニュー画面が表示されます。
1、焙煎：焙煎度合い分析の操作を行います。
2、粒度：粒度分析の操作を行います。
3、校正：焙煎度合いの値に対し、校正の操作をします。
4、設定：さらに Omni の設定項目にアクセスします。
ホーム画面で左にスワイプした時、履歴データが表示されます。
1
、焙煎の履歴データ：ホーム画面で左に１回スワイプすると、前回の履歴が確認できます。もっ
と下にスワイプすると、すべての履歴が確認できます。
2、粒度の履歴データ：ホーム画面で左に２回スワイプすると、前回の履歴が確認できます。
もっ
と下にスワイプすると、すべての履歴が確認できます。
直接ホーム画面を軽くタッチして、測定が開始されます。
ホーム画面のほかの画面では、右にスワイプすることで、前のページに
戻れます。
左の画面
メニュー設定
ホーム画面
軽く画面をタッチし
て、測定を開始します。
右の画面①
前回の焙煎度合い
分析結果
右の画面②
前回の粒度分析結果
右にス
ワイプ
左にス
ワイプ
左にス
ワイプ
フルシティ
比率：34%
43.9
Agtron
（COMMON）
焙煎
中
比率：58%
粒子数：174
（ISO）
粒度
980
μm
設定校正
焙煎 粒度
43
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