46
VAHELDUVPINGE
VAHEMIK TÄPSUS LUBATUD
200 V
±(1,2% +10D)
100 mV
250 V
1 V
ALALISVOOLUTUGEVUS
VAHEMIK TÄPSUS LUBATUD
200 μa
±(1.8% 2D)
100 nA
2000 μA 1 μA
20 mA 10 μA
200 mA ±(2.0% +2D) 100 μA
10 A ±(2.0% +10D) 10 mA
TAKISTUS
VAHEMIK TÄPSUS LUBATUD
200 Ω
±(1.0% +10D)
0,1 Ω
2000 Ω
±(1.0% +2D)
1 Ω
20 K Ω 10 Ω
200 K Ω 100 Ω
2000 K Ω 1 K Ω
DIOODIDE JA VOOLURINGI JÄRJEPIDEVUSE TESTIMINE
VAHEMIK KIRJELDUS
Ekraanile ilmub dioodi pinge esmase languse näitaja (mV). (Testimise pinge: 2,8 V.)
K)(75$16,6725,7(0®®70,1(
VAHEMIK Тestimise vahemik Testimise voolutugevus Testimise pinge
NPN/PNP 0–1000 I b = 10 μA Vce = 2,8 V
ÜLDISED JUHISED
HOIATUS
1. Vältimaks elektrilööke või seadme kahjustumist, ärge mõõtke pigneid, mille potentsiaal võib ületada
250 V maapotentsiaali suhtes.
2. Enne seadme kasutamise kontrollige juhtmeid, otsikuid ja korpust purunemiste ja
isolatsioonirikkumiste osas.
Reaktsioon: keskmine reageering, kalibreeritud
siinuslainelt rms.
Sageduspiirkond: 45 Hz ~ 450 Hz.
Liigpinge kaitse: 0,5 A/250 V ja 10A/250V
kaitsmed Mõõdetava pinge langus: 200mV
Maksimaaalne avatud ahela pinge: 3.0V
Liigpinge kaitse: 15 sek., maksimaalne 220
Vrms.
To Next Page
Loading...