Zakres Rozdzielczość Dokładność
200Ω 0,1Ω ±(1,2%+5)
2kΩ 0,001kΩ ±(1%+5)
20kΩ 0,01kΩ
200kΩ 0,1kΩ
2MΩ 0,001MΩ ±(1,2%+5)
20MΩ 0,01MΩ ±(1,5%+5)
Rezystancja
Napięcie obwodu otwartego: ok. 0,25 V
Ochrona przed przeciążeniem: 250 V DC/AC rms
Temperatura (°C, °F)
Zakres Rozdzielczość Dokładność
-20°C÷1000°C 1°C -20°C÷0°C±(5%+4)
0°C÷400°C±(1%+3)
400°C÷1000°C±(2%+3)
0°F÷1800°F 1°F 0°F÷50°F:±(5%+8)
50°F÷750°F:±(1%+6)
750°F÷1800°F:±(2%+6)
Uwaga:
1.Dokładnośćnieuwzględniabłędutermosondy.
2.Danedotyczącedokładnościzakładająstabilnośćtemperatury
otoczenia w zakresie ±1°C. Dla zmian temperatury otoczenia
wynoszących±5°Cdokładnośćznamionowamazastosowaniepo
1 godzinie.
Pojemność
Zakres Rozdzielczość Dokładność
20 nF 0,01 nF ±(8%+10)
20 nF 0,1 nF ±(5%+5)
2 µF 0,001 µF
20 µF 0,01 µF
200 µF 0,1 µF
1000 µF 1 µF ±(8%+10)
Ochrona przed przeciążeniem:
zakresy200µFi1000µF:brakochronyprzedprzeciążeniem
pozostałezakresy:bezpiecznikF250mA/250V
Napięcie obwodu otwartego:
ok. 0,5 V
Test hFE tranzystora
Zakres hFE Natężenie testowe Napięcie testowe
PNP i NPN 0÷1000
lb≈2 µA
Vce≈1 V
Zakres Opis Uwagi
Wyświetlanyjest
przybliżony.
spadeknapięcia
zaokrągl.wgórę.
Napięcieobwodu
otwartego:
ok. 1,5 V
Jeżelirezystancja
jestniższaniż
ok.30Ω,włącza
sięwbudowany
brzęczyk.
Napięcieobwodu
otwartego:
ok. 0,5 V
Dioda i ciągłość obwodu
Ochrona przed przeciążeniem: 250 V DC/AC rms
Dlatestuciągłościobwodu:
Jeżelirezystancjaznajdujesięwzakresieod30Ω
do100Ω,brzęczykmożesięwłączyćlubnie.Jeżeli
rezystancjajestwyższaniż100Ω,brzęczyknie
włączysię.
Zakres Rozdzielczość Dokładność
miernik
200 A
0,1 mV/0,1 A ±(1,5%+5)
miernik
1000 A
1 mV/1 A ±(1,5%+5)
Maks. napięcie wejściowe: 200 mV
Zakres częstotliwości: 40Hz÷400Hz
Reakcja:średnia,kalibrowanawrmsprzebiegu
sinusoidalnego
Natężenie prądu zmiennego (z zaciskiem)