Optika 2WAJ - Page 42

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5.0 FONCTIONNEMENT ET STRUCTURE DU RÉFRACTOMÈTRE
5.1 INDICE DE RÉFRACTION
L’indice de réfraction d’un matériel est un facteur numérique pour lequel la vitesse de phase
d’une radiation électromagnétique diminue, par rapport à sa vitesse dans le vide, lorsqu’elle
traverse un matériel. Lorsqu’un rayon de lumière traverse deux matériaux avec différents in-
dices de réfraction, n1 et n2, avec un angle d’incidence, a1, horizontal à la supercie, il sera
dévié en fonction de la loi de réfraction connue comme la loi de Snell :
Où a2, est l’angle de réfraction mesuré depuis la normale a la supercie.
Si un rayon de lumière passe d’un matériel plus dense à un matériel moins dense, il se forme
un angle d’incidence plus petit par rapport à l’angle de réfraction. En augmentant l’angle d’in-
cidence, on obtiendra un angle de réfraction de 90º. Dans ce cas l’angle d’incidence s’appelle
angle critique, où se produit la réexion interne totale et donc il ne transmet pas la lumière au
second matériel.
Le réfractomètre se base sur ce principe pour
déterminer les indices de réfraction. Les rayons
lumineux avec différents angles agissent sur la
supercie du réfractomètre avec des angles de
réfraction toujours supérieurs à 90º. Avec un
télescope on observe le rayon émergent et on
peut observer dans le champ visible du téle-
scope une image claire et obscure, divisée par
une ligne de limitation bien dénie, comme le
montre le schéma 2. La ligne de démarcation
du fond clair et du fond noir est la position de
l’angle critique.
5.2 Structure du système optique
Le système optique de cet appareil est composé de systèmes de lecture et de télescopes
(voir g. 3). Tous les composants optiques et le reste des structures principales, excepté les
deux prismes et les oculaires, se situent à l’intérieur de l’emballage.
Fig.1
Fig.2
NORMAL
INTERFAZ (SUP. EN-
TRE DOS MEDIOS)