間接量測一畢氏定理測量
本儀器可以利用畢氏定理計算距離。這個功能可以實現對不易到
達的地方的距離測量。間接測量時，請按照下面的步驟進行測量：
• 所有的被測量點都應在同一水準或垂直面上。
• 為能得到更準確的測量結果，建議將儀器在一個點上固定旋轉
進行測量（如：將儀器的拐角完全展開靠在牆面上進行測量）。
一次畢氏定理測量
如：測量
一個建築物的高或寬。當一個高度需要通過兩個或三個
距離來確定時。按
鍵，圖示 顯示在功能區域，此時鐳射
開啟, 待測距離的圖示閃爍顯示在顯示幕裏。如圖1所示，瞄準最
上面的點(步驟1)，然後按
測量鍵進行測量，第一次測量完
成後，測量值將被採集。接著，第二個待測距離的圖示閃爍顯示
在顯示幕裏，保證被測點在同一水準或者垂直線上。瞄準下面的
點 (步驟2)，然後按
鍵進行測量，測量結果顯示在主顯示
內，而分部測量結果顯示在輔助顯示內。
二次畢氏定理測量
連續按兩次
鍵，圖示 將顯示在功能區域，待測距離的
圖示閃爍顯示在顯示幕裏。如圖 2 所示，瞄準最上面的點 (步驟
1)，然後按
鍵進行測量，第一次測量完成後，測量值將被
採集。接著，第二個待測距離的圖示閃爍顯示在顯示幕裏，保證
被測點在同一水準或者垂直線上。瞄準中間的點 (步驟２)，然後
按
鍵進行測量，第二次測量完成後，測量值將被採集。接
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