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ダイオードのテスト
注意
˙ メーターまたはテスト対象の機器の起こりうる損傷を回
避するために、ダイオードをテストする前に、回路の電
源を切り、すべての高電圧コンセンサーを放電してください。
ダイオードテストを使用して、ダイオード、トランジスタ、
シリコン制御整粒子（SCRs）、およびその他の半導体デバ
イスをチェックします。この機能は、接合に電流を流し、
接合の電圧効果を測定することにより、半導体接合をテス
トします。良好なシリコン接合は 0.5V から 0.8V の間の低
下を見せます。
半導体コンポーネントの順方向バイアスを読み取るには、
赤いテストリードをコンポーネントの正の端子に配置し、
黒いリードをコンポーネントの負の端子に配置します。優
れたダイオードでも、回路で 0.5V から 0.8Vmp 順方向バイ
アス値を生成するはずです。
半導体コンポーネントの逆バイアスの読み取り値について
は、メーターで測定できます。優れたダイオードでも、回
路で -0.5V. から -0.8V の逆バイアス読み取り値が生成され
るはずです。
ダイオードが開いているか短絡している場合、ディスプレ
イに『OL』という表示が現れます。
ダイオードテストを使用するには、ロータリースイッチを
抵抗位置まで回して、機能（黄色）ボタンを押して測定モ
ードを選択します。
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