7
200Ω Bereich: ±0.5% vMW +3Dgt
2k to 2MΩ Ber.: ±(0.5% vMW +1Dgt)
20MΩ Ber.: ±(2.0% vMW +2Dgt)
Überlastschutz, alle Bereiche: 350VDC oder AC eff.
Leerlaufspannung, 20Ω Bereich: 6.5VDC, 200Ω Bereich: 3.0VDC, andere Bereiche:
1.2VDC
Durchgangstest
Akustisches Signal im 2kΩ Bereich bei R ≤30Ω
Ansprechzeit: ung. 800ms
Überlastschutz: 350VDC oder AC eff.
Diodentest
Teststrom: 1mA (approx.)
Testspannung: 3.0VDC typisch
Genauigkeit: ±(1.5%vMW +1Dgt)
Anzeige: Spannungsabfall
Überlastschutz: 350VDC oder AC eff.
Mikrowellendiodentest
Teststrom: 1.3mA (approx.)
Testspannung: 8.0VDC typisch
Genauigkeit: ±(3.0%vMW +1Dgt)
Anzeige: Spannungsabfall
Überlastschutz: 350VDC oder AC eff.
Kapazität
Bereiche: 200pF, 2, 20, 200nF, 2, 20, 200, 2000µF
Genauigkeit*, 200pF bis 200nF: ±(1.0% vMW +3Dgt)
2µF bis 200µF Ber.: ±(2.0% vMW +3Dgt)
2000µF Bereich: ≤1000µF ±(3.0% vMW+3Dgt)
>1000µF ±(5.0% vMW+5Dgt)
Anmerkung: In niedrigen Bereichen 6 Punkte Restanzeige vom Meßwert
abziehen.
Testfrequenz, Bereiche: 200p bis 2µF: 1000Hz; 20, 200µF: 100Hz; 2000µF: 10Hz
Temperaturkoeffizient, ≤0.5µF: 0.1%/°C; >0.5µF: 0.2%/°C
Überlastschutz: flinke 0.1A/250V Sicherung.
Induktivität Bereiche: 200µH, 2, 20, 200mH, 2, 20, 200H
Genauigkeit, 200µH Ber.: ±(5.0%vMW +5Dgt)
Überlastschutz: 350VDC oder AC eff. +30Dgt)*
2 bis 200mH: ±(3.0%vMW +20Dgt)*
2 bis 200H: ±(5.0%vMW +20Dgt)*
*Fur Induktore mit Q ≤7
Testfrequenz: 200µH bis 2H Ber: 1000Hz; 20 und 200H Bereiche: 100Hz
Temperaturkoeffizient, ≤0.5H: 0.2%/°C; >0.5H: 0.5%/°C
Überlastschutz: flinke 0.1A/250V
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