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Résolution, cal. 20Ω: 10mΩ
Précision, cal. 20Ω: ±1.2% lect (ajustement du zéro)
cal. 200Ω: ±0.5% lect +3dgt
cal. 2k à 2MΩ: ±(0.5% lect +1dgt)
cal. 20MΩ: ±(2.0% lect +2dgt)
Protection de surcharge, tous calibres: 350Vcc ou ca eff.
Tension en circuit ouvert; calibre 20Ω: 6.5Vcc; calibre 200Ω: 3.0Vcc, autres;
calibres: 1.2Vcc
Continuité
Indication sonore, cal. 2kΩ à R ≤30Ω
Temps de réponse: 800ms approx
Prot. de surcharge: 350Vcc ou AC eff.
Test de Diodes
Courant de test: 1mA (approx.)
Tension de test: 3.0Vcc typiq.
Précision: ±(1.5%lect +1dgt)
Affichage: chute de tension, direction passante
Prot. de surcharge: 350Vcc ou AC eff.
Test de Diodes à Micro-ondes
Courant de test: 1.3mA (approx.)
Tension de test: 8.0VDC typiq.
Précision: ±(3.0%lect +1dgt)
Affichage: chute de tension, direction passante
Prot. de surcharge: 350Vcc ou AC eff.
Capacité
Calibres: 200pF, 2, 20, 200nF, 2, 20, 200, 2000µF
Précision*, calibres: 200pF à 200nF: ±(1.0% lect +3dgt)
2µF à 200µF: ±(2.0% lect +3dgt)
2000µF: ≤1000µF ±(3.0% lect +3dgt) ≥
>1000µF ±(5.0% lect +5dgt)
Note: Dans les calibres inférieurs, déduisez 6 points d’affichage résiduel du
résultat de mesure .
Fréquence de test, calibres: 200p à 2µF: 1000Hz; 20, 200µF: 100Hz; 2000µF: 10Hz
Coefficient de température, ≤0.5µF: 0.1%/°C; >0.5µF: 0.2%/°C
Prot. de surcharge: fusible rapide 0.1A/250V.
Inductance
Calibres: 200µH, 2, 20, 200mH, 2, 20, 200H
Précision, calibres:
200µH: ±(5.0%lect +30dgt)*
2 à 200mH: ±(3.0%lect +20dgt)*
2 à 200H: ±(5.0%lect +20dgt)*
*Pour inductors avec Q ≤ 7
Fréquence de test, calibres: 200µH à 2H: 1000Hz; 20 et 200H: 100Hz
Coefficient de température, ≤0.5H: 0.2%/°C; >0.5H: 0.5%/°C
Prot. de surcharge: fusible rapide 0.1A/250V
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