Agilent Technologies 4339B - Page 39

Display
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8-6
Correction
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8-6
T
est Sequence
Program:
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8-6
Mathematical
Functions .
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Comparator
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8-6
Contact
Check .
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8-6
GPIB
Interface
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8-6
Handler
Interface
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8-6
Save/Recall
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8-6
Continuous
Memory
Capability
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8-7
Key
Lock
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8-7
General
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8-7
P
ower
Requirements
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8-7
Operating
T
emperature
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Humidity
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and
Altitude
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8-7
Storage
T
emperature
,
Humidity
,
and
Altitude
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8-7
EMC
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8-7
Safety
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8-7
Dimensions
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8-7
W
eight
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8-7
Supplemental
P
erformance
Characteristics
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8-8
Typical
Measurement
A
ccuracy
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8-8
Measurement
Time
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8-8
DC
T
est
Voltage
Settling .
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8-9
DC
T
est
Voltage
Output Resistance
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8-9
Continuous
Memory
Duration
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8-9
9.
Maintenance
Introduction
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9-1
T
est
Equipment
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9-1
P
erformance
T
ests
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9-2
Introduction
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9-2
T
est Equipment
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9-2
Calculation
Sheet
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9-2
P
erformance
T
est
Record
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9-3
Calibration
Cycle
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9-3
Source
V
oltage
A
ccuracy
Test
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9-4
Specication
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9-4
T
est Equipment
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9-4
Procedure
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9-4
Ammeter Oset V
oltage and Input Resistance T
est........
......
9-6
Specication . . . . . . . . . . . . . . . . .
..............
9-6
Test Equipment
.........................
....
9-6
Procedure . . .
.........................
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9-6
Ammeter Oset V
oltage
Test ......................
9-6
Ammeter Input Resistance T
est
.....................
9-7
Current Measurement A
ccuracy T
est
.... .. .. .. .. .... .. ..
9-8
Specication . . . . . . . . . . . . . . .
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9-8
Test Equipment ............................. 9-8
Procedure................................ 9-8
Resistance Measurement Accuracy Test ................ 9-12
Specication . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9-12
Test Equipment ............................. 9-12
Procedure................................ 9-12
Contents-9