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APPA 501 - Page 97

APPA 501
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ダイオード試験
ダイオードをテストする前に、メーターや測定対象
の機器を破損しないようにするため、回路の電源を外
して、高電圧コンデンサをすべて放電してください。
注意
!
ダイオードのテストを使用して、ダイオード、トラン
ジスタ、シリコン制御整流器(SCR)、その他の半導
体素子を検査できます。この機能は半導体の接合部へ
電流を流し、接合部の電圧降下を測定することで接合
部をテストします。半導体の接合部が良質の場合は、
電圧が0.5V〜0.8V降下します。
半導体素子の順方向バイアスを測定する場合は、赤色
のテストリードを素子の正極へ接触させ、黒色のリー
ドを素子の負極へ接触させます。回路では、良質なダ
イオードは0.5V〜0.8Vの順方向バイアスを示すはずで
す。
本メーターは、半導体素子の逆方向バイアスも測定で
きます。回路では、良質なダイオードは-0.5V〜-0.8V
逆方向バイアスを示すはずです。
ダイオードが開いていたり短絡している場合は、「OL
」が表示されます。ダイオードをテストする場合は、
ロータリースイッチを抵抗測定の位置へ回し、機能ボ
タン(黄色)を押して測定モードを選択します。
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