Siemens 3WL9111-0AT44-0AA0 - Проверка Времени Задержки; Токонезависимая Задержка, T; I²T Sd

7 – 2
7.2 Prüfung der Verzögerungszeit
In Abhängigkeit der Zeitmessmethode nach 5.1 sind bei der Ermitt-
lung der Verzögerung folgende Zeiten des Leistungsschalters zu
berücksichtigen:
- Aktivierung der ETU ≤ 15 ms
- Schaltereigenzeit ca. 20 ms
Diese sind ggf. von der gemessenen Auslösezeit abzuziehen.
7.2.1 Stromunabhängige Verzögerung, t
sd
= fix
Diese Prüfung wird angewendet, wenn die I
2
t
sd
-abhängige Verzö-
gerung (I
2
t
sd
= const) und "ZSS" abgeschaltet sind.
Prüfstrom I
p
= 1.5 * I
sd
mit Taster CURRENT RANGE (2) und
Potentiometer CURRENT L1, L2, L3, N (5) einstellen.
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten und mit
Taster START/STOP (10) einleiten.
Die Toleranz für die Verzögerungszeit t
sd
beträgt für Einstellungen
bis 500 ms t
sd
+50 ms, sonst t
sd
+ 10%.
Die Toleranz für die Verzögerungszeit t
sd
beträgt für Einstellungen
bis 500 ms t
sd
+50 ms, sonst t
sd
+ 10%.
7.2.2 I²t
sd
-abhängige Verzögerung
Diese Prüfung wird angewendet, wenn die I
2
t
sd
-abhängige Verzö-
gerung (I
2
t
sd
= const) eingeschaltet und "ZSS" ausgeschaltet ist.
Prüfstrom I
p
= 1.5 * I
sd
mit Taster (2) und Potentiometer (5) einstel-
len.
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten und mit
Taster START/STOP (10) einleiten.
Die Verzögerungszeit beträgt
t
a min
= ((12*I
n
)
2
* t
sd
)/I
2
t
a max
= ((1,2*12* I
n
)
2
*(t
sd
+0.05s))/I
2
Die Toleranz für die Verzögerungszeit beträgt t
sd
+50 ms im fixen
Teil der Kennlinie (über dem Knickpunkt bei 12xI
n
).
Verzögerungszeit, abhängig von der Zeitmessmethode
Delay time, dependent upon time measuring method used
Eingestellte Verzögerungszeit t
sd
Set delay time t
sd
5.1 (a)
Messung der Öffnungszeit des Leistungs-
schalters (Hilfsschalter -S2)
Measurement of the circuit-breaker
opening time (auxiliary switch -S2)
5.1 (b)
Messung der Auslösezeit des
Überstromauslösers (ETU)
Measurement of the overcurrent
release (ETU) delay time
ms ms ms
03515
20 55 35
80 115 95
100 135 115
200 235 215
300 335 315
400 435 415
7.2 Testing the Delay Time
Depending on the time measuring method applied as described in
5.1, the following circuit-breaker times should be taken into
consideration when measuring the delay:
- ETU activation ≤ 15 ms
- Switch response time approx. 20 ms
If necessary, these are to be subtracted from the measured tripping
time.
7.2.1 Current-independent Delay, t
sd
= fixed
This test is implemented when the I
2
t
sd
dependent delay (I
2
t
sd
=
const) and “ZSI” are switched off.
Set test current I
p
= 1.5 * I
sd
by means of the CURRENT RANGE
(2) pushbutton and CURRENT L1, L2, L3, N (5) potentiometer.
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9), and
start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
The delay time tolerance t
sd
for settings of up to 500 ms is t
sd
+50 ms, otherwise t
sd
+ 10%.
The tolerance for the delay time t
sd
for settings of up to 500 ms is t
sd
+50 ms, otherwise t
sd
+10%.
7.2.2 I²t
sd
dependent delay
This test is implemented when the I
2
t
sd
dependent delay (I
2
t
sd
=
const) is switched on and "ZSI" is switched off.
Set the test current I
p
= 1.5 * I
sd
by means of the pushbutton (2) and
the potentiometer (5).
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9), and
start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
The delay time is
t
a min
= ((12*I
n
)
2
* t
sd
)/I
2
t
a max
= ((1.2*12* I
n
)
2
*(t
sd
+0.05s))/I
2
The tolerance for the delay time is t
sd
+50 ms in the fixed part of the
characteristic curve (above the inflection point at 12xI
n
).