1-6E
ENGLISH JAPANESE
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HDR-SR1/SR1E_L2
1-3-3.自己診断コード表
C
C
C
C
E
E
E
E
E
E
E
E
ブロック
機能
04
13
13
32
20
31
61
61
62
62
91
94
詳細
コード
00
01
02
60
00
00
10
11
00
01
01
00
症状/状態
標準以外のバッテリを使用している
フォーマットしていない“メモリー
ステックデュオ”を入れた
“メモリーステックデュオ”が壊
れている
ディスクアクセスエラー
フォーカスが合いにくい
(フォーカスの初期化ができない)
EEPROMが書き換えられている
ドライブ不良
ズーム動作の異常(ズームレンズの
初期化ができない)
フォーカス,ズーム異常
手振れ補正が効きにくい(PITCH
角速度センサ出力張り付き)
手振れ補正が効きにくい(YAW角
速度センサ出力張り付き)
フラッシュの充電異常
フラッシュメモリの書込み/消去動
作不良
自己診断コード
対応/方法
インフォリチウムバッテリを使用する。
“メモリーステックデュオ”をフォーマットする。
新しい“メモリーステックデュオ”に交換する。
電源を外し,再度入れ直してから操作する。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合,レンズブロックのフォーカスMRセンサ
(LD-226基板CN5201ql,waピン)を点検する。異常な
ければフォーカスモータ駆動回路(LD-226基板IC5204)
を点検する。
EEPROMのデータを元の値に戻す
ハードディスクドライブを点検または交換する。
ズームレバーを操作したときにズーム動作をすれば,レン
ズブロックのズームMRセンサ(LD-226基板CN5201
qh,qkピン)を点検する。ズーム動作をしなければズーム
モータ駆動回路(LD-226基板IC5204)を点検する。
自己診断コードC:32:60とE:61:10の両方を点検す
る。
PITCH角速度センサ(CM-074基板SE6801)周辺回路を
点検する。
YAW角速度センサ(CM-074基板SE6802)周辺回路を点
検する。
フラッシュユニットの点検または交換をする。
フラッシュメモリ(VC-456基板IC1601)を点検する。
対
応
者