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X-Rite i1Pro - Page 78

X-Rite i1Pro
309 pages
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78
Technische Daten
Spektral-
technologie:
i1
®
-Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem 128-Pixel-
Diodenraster) mit integriertem Wellenlängentest
Spektralbereich 380 - 730 nm
Physikalisches Messintervall 3,5 nm
Optische Auflösung 10 nm
Spektrale Auflösung 380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
Messfrequenz im Scanmodus 200 Messungen pro Sekunden
Optik:
Messgeometrie 45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2009
Messblende 4,5 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
Messfleckgröße 3,5 mm
Lichtquelle Gasgefüllte Wolfram-Glühlampe (Typ A) und UV-LED
Reflexions-
messung: spektrale Reflexion (dimensionslos)
Messbedingungen .O&ILTER)3/-ESSUNG-
D50 - ISO 13655:2009 Messung M1
UVCut - ISO 13655:2009 Messung M2
OBC: +ORREKTURFàROPTISCHE!UFHELLER/"#MIT3OFTWAREI0ROlLER

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