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Hioki Analog MO HiTESTER Series - Page 38

Hioki Analog MO HiTESTER Series
104 pages
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第3章
34
温度の影響及び温度の影響量による変動は 18 ℃~ 28 ℃を除く公称使
用温度範囲で適用
確度保証範囲における許容差はメータ零位調整器による調整後に適用
* 目盛りの長さとは
目盛の長さとは、最も外側の目盛の弧の長さ」のことです。仕様では、
0 MΩ、∞目盛の変位は「目盛の長さの 0.7%」と規定されています。
(参照日本工業規格JIS C1102-1:2007 直動式指示電気計器-第1 部
定義および共通する要求事項)
IR4000 シリーズのスケール板は、両端にある 0 と∞の目盛の太さが、
目盛の長さの 1.2% になるように描かれています。そのため、0 MΩ、
∞目盛の両端は、目盛の中心から目盛の長さの 0.6% の位置になりま
す。よって、指針が目盛の太さの内側にあるならば、仕様の「目盛の長
さの 0.7%」を満たしていると判断できます。
・湿度の影響
(90%rh 以下)
・外部磁界の影響
(400 A/m)
・姿勢の影響量に
よる変動(E
1
(水平± 30°)
・供給電圧の影響
量による変動
(E
3
固有不確かさ (A)
動作不確かさ(B)
・測定可能回数
(電池寿命)
:第 1 有効測定範囲において 表示値の± 5%
:第 2 有効測定範囲において 表示値の± 10% 
上記の影響量 かつ 許容差以内
:表示値の± 3
:表示値の± 15
0MΩ,∞目盛においては目盛の長さ
*
の± 2%
表示値の±5%かつ仕様許容差内(電池有効範囲
において)
± 10%(第 1 有効測定範囲)
± 30%(第 1 有効測定範囲)
:1 回の測定時間を5秒間 ON 25 秒間 OFF
して定格測定電圧を維持できる下限測定抵抗値
を測定したとき 1000

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