Metrix IX 3131 - Page 22

I - 20 IX 3131
Fréquence de test 1 kHz
Calibre Affichage max. Précision Cx Précision DF Remarques
1mF 0.999 mF
(*)
+/-(2.5%+5dgt)
(DF<0.1)
+/-
(5%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.1)
après cal.
court-circuit
100 µF 99.99 µF +/-(0.6%+5dgt)
(DF<0.1)
+/-
(1.2%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.1)
après cal.
court-circuit
10 µF 9.999 µF +/-(0.4%+3dgt)
(DF<0.5)
+/-
(0.4%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.5)
-
1000 nF 999.9 nF +/-(0.4%+3dgt)
(DF<0.5)
+/-
(0.4%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.5)
-
100 nF 99.99 nF +/-(0.4%+3dgt)
(DF<0.5)
+/-
(0.4%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.5)
-
10 nF 9.999 nF +/-(0.4%+5dgt)
(DF<0.5)
+/-
(0.4%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.5)
après cal.
circuit ouvert
1000 pF 999.9 pF +/-(0.6%+5dgt)
(DF<0.1)
+/-
(1%+100/Cx+5dgt)
(DF<0.1)
après cal.
circuit ouvert
(*) Cette lecture peut être étendue à 1999 max.
"
""
" Remarques : 1 - La valeur de Q est l’inverse de DF.
2 - Cette spécification est basée sur la mesure effectuée
sur les bornes de test.
3 - Les composants sous test et les cordons de mesure
doivent être correctement blindés (ou reliés à la borne de
blindage (GUARD) si nécessaire.
4 - Cx = Points de valeur C affichée, c.à.d. C = 88.88 µF
équivalent à CX = 8888.
Inductance
Fréquence de test 120 Hz
Calibre Affichage max. Précision Lx
(DF<0.5)
Précision DF
(DF<0.5)
Remarques
10000 H 9999 H
non spécifié non spécifié
-
1000 H 999.9 H +/-
[0.3%+(Lx/10000)
%+5dgt]
+/-
(1%+100/Lx+5dgt)
après cal.
circuit ouvert
100 H 99.99 H +/-
[0.3%+(Lx/10000)%
+5dgt]
+/-
(0.8%+100/Lx+5dgt)
-
10 H 9.999 H +/-
[0.3%+(Lx/10000)%
+5dgt]
+/-
(0.8%+100/Lx+5dgt)
-
1 H 999.9 mH +/-
[0.3%+(Lx/10000)%
+5dgt]
+/-
(0.8%+100/Lx+5dgt)
-
100 mH 99.99 mH +/-
[0.5%+(Lx/10000)%
+5dgt]
+/-
(1.5%+100/Lx+5dgt)
après cal.
court-circuit
10 mH 9.999 mH +/-
[1.0%+(Lx/10000)%
+5dgt]
+/-
(5%+100/Lx+5dgt)
après cal.
court-circuit