LEM Analyst 2050 - 4 Définitions Techniques; Paramètres de Mesure

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Fig. 7 WinLog
Caractéristiques principales:
• Utilisation aisée sous Windows
• Présentation des données sous diverses formes:
copie de l’écran de la pince, tableau, graphe.
• Chargement possible de la courbe et des
données.
• Analyse d’harmoniques à partir des courbes.
• Chargement de 5 paramètres, la forme d’onde et
les harmoniques en temps reél
• Exportation de données vers d’autres applications
4. DÉFINITIONS TECHNIQUES
4.1 Paramètres de mesure
THD Distorsion harmonique totale, niveau de
distorsion harmonique sous forme de
pourcentage de la valeur de la forme de
l’onde à la fréquence fondamentale.
DF Facteur de distorsion, niveau de
distorsion harmonique sous forme de
pourcentage de la valeur RMS totale de
l’onde.
F
0
Fréquence fondamentale en Hz
CF Facteur de crête, rapport entre la valeur
de crête et la valeur RMS.
Rpl Oscillations résiduelles, valeur RMS en
CA sous forme de pourcentage de la
composante CC
Pk valeur maximum positive ou négative (>
2ms) d'une onde répétitive. Ne s'applique
pas à un événement unique.