3 プローブを塗装済み⾒本の表⾯に垂直
に押し当てます。画⾯に膜厚の値が表
⽰されます。この値は、絶えず変化し
ているはずです（図21）。
読み取り値の右横に、信号強度インジケーターが
あります。インジケーターが緑になっている場合
は、信号強度が⼗分で、読み取りも安定していま
す。緑になっていない場合は、プローブの下に適
量のカプラントの膜が形成されていることと、プ
ローブを試験⾯に垂直に密着させていることを確
認してください。または、同じ試験⾯上でプロー
ブを少しずつ動かして、強い信号を受信できる場
所を⾒つけてください。
4 表⾯からプローブを離します。最後の読み取り値が表⽰されたまま
になります。値が適切でない場合は、⼿順2と3を繰り返します。
カプラントを塗り過ぎると、プローブを離したときに読み取り値が変動します。
この場合は、プローブの先端と⾒本の表⾯をきれいにしてから、⼿順2と3を繰り
返してください。
5 既存の校正値をそのままにして、校正⽇時の記録を現在の⽇時
に更新する場合は［認証］を、校正し直す場合は［校正］を押
します。確認⼿順を終了するには、［OK］を押します。
10.8 校正値の保存-モデルT
暗証番号によるロック機能を使って、校正値をロックすることができま
す。ロックされた校正値は、暗証番号を⼊⼒しないと変更できません。
校正値がロックされていても、メニュー→校正→テスト校正を押して
膜厚計を確認できますが、校正⽇時を更新したり、再校正したりする
ことはできません。
ロック機能について詳しくは、jp-25ページのセクション13「PIN（暗
証番号）によるロック」を参照してください。
図21
10 膜厚計の校正（続き）
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jp-21
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